涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

功能特点：

◆产品设计：内置探头的一体化设计，重量仅为98g，真正意义的超便携

◆显示方式：4位液晶数字显示

◆统计功能：设有三个统计量（平均值、上限值、下限值）

◆校准功能：可进行零点校准、两点校准及系统校准

◆电量提醒：具有欠压显示功能

◆蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示

◆关机方式：具有自动关机和手动关机两种方式

公司07年成立以来，一共研发生产出F1，F3 ,F400 , F05 , F1/90 , F10 ,高温F3,N1,N3，N400，N05、NF分体型、一体型等二十几个种类的探头，以及每一种探头的配套主机和它的配套附件。其中F3高温探头，F05/N05小管径探头为行业新产品。